Tesi affreschi ospizio esposti

~ 63 ~ 4.2.2 La diffrazione di raggi X da polveri (XRDP) La diffrazione a raggi X è una tecnica analitica non distruttiva che impiega un fascio di raggi X monocromatici di lunghezza d’onda paragonabile al passo reticolare di un composto cristallino (dell’ordine dell’Angstrom, ovvero 10-10m) . Quando questi raggi ad alta energia incontrano una struttura ordinata, essi vengono diffratti, cioè deviati secondo un angolo caratteristico rispetto alla direzione incidente. L’angolo fra l’asse del fascio e la direzione di deviazione viene identificato in cristallografia come 2θ, il cui valore è dato dalla legge di Bragg: 2d hkl senθ = nλ λ= lunghezza d’onda dei raggi X, d hkl = distanza tra i piani cristallografici (hkl), θ = angolo di incidenza dei raggi X. La diffrazione dei raggi X può essere applicata su di un materiale solido, anche se più comunemente si effettuano misurazioni sul campione polverizzato. Ad ogni materiale cristallino corrisponde una determinata figura di diffrazione che si genera dalla collimazione della radiazione diffratta su di un rivelatore piano. Successivamente la figura ottenuta viene trasformata in un diffrattogramma, un grafico che riporta in ascissa i valori dell’angolo 2θ e in ordinata l’intensità, ossia il numero di conteggi per un dato angolo. Nel diffrattogramma compaiono picchi che sono propri di ciascun materiale, i quali corrispondono ad un determinato piano cristallino caratterizzabile con l’indice di Miller.